Grema 3D - Great Master LTD тел: +359 888 100 273
email: office@grema3d.com
3D Принтери / СКЕНЕРИ 3D скенер 3D система Scantech TrackScan Sharp-S

3D скенер 3D система Scantech TrackScan Sharp-S
3D система Scantech TrackScan Sharp-S
3D система Scantech TrackScan Sharp-S
3D система Scantech TrackScan Sharp-S
3D система Scantech TrackScan Sharp-S
3D система Scantech TrackScan Sharp-S



Системата за оптично 3D сканиране TrackScan Sharp-S, разработена с 25-мегапикселови индустриални камери и надеждни вградени процесори за крайни изчисления, е специално проектирана за измерване на големи части на голямо разстояние с висока скорост.
Тази измервателна система се отличава със голяма производителност, включваща 99 лазерни линии, и скорост на измерване до 4,86 милиона измервания/сек, предлагайки изключително прецизни и надеждни резултати от измерванията.

  • Страна на произход: Китай


Технически данни и информация

Параметри
Модел TrackScan Sharp S
Режим на сканиране Ултра-бързо сканиране 81 сини лазерни кръстчета
Хипер-фино сканиране 17 сини паралелни лазерни линии
Сканиране на дълбоки отвори 1 синя лазерна линия
Прецизност До 0,025 mm (0,0009 in)
Скорост на измерване 4,860,000 измервания/сек
Зона на сканиране 800 mm × 700 mm 
Лазерен клас Клас Ⅱ (безопасен за очите)
Разолюция 0.020 mm (0.0008 in)
Обемна точност(1) 10.4 m³ (разстояние на проследяване 3.5 m) 0.048 mm 
35 m³ (разстояние на проследяване 5.2 m) 0.069 mm
95 m³ (разстояние на проследяване 7.2 m) 0.128 mm 
135 m³ (разстояние на проследяване 8.5 m) 0.159 mm
Обемна точност (2)(със система за фотограметрия MSCAN) 0.044 mm + 0.012 mm/m (>6m)
(0.0017 in + 0.00014 in/ft)
Точност на позициониране на отвора 0.050 mm (0.0020 in)
Пиксели на камерата на 25 MP
Разстояние  300 mm (11.8 in)
Дълбочина на полето 400 mm (15.7 in)
Файлов формат .stl, .obj, .ply, .asc, .igs, .txt, .mk2, .umk и др.
Диапазон на работната температура 0-45 °C (32℉-113℉)
Диапазон на работната влажност (без кондензация) 10-90% RH
Режим на интерфейса USB 3.0, Мрежов интерфейс
Сертифициране CE, RoHS, WEEE

(1)Акредитиран по ISO 17025: Въз основа на стандарта VDI/VDE 2634, част 3 и спецификацията на JJF 1951 се оценява ефективността на грешката при сондиране (размер) (PS).
(2) Акредитиран по ISO 17025: Въз основа на стандарт VDI/VDE 2634, част 3, и спецификацията на JJF 1951 се оценява ефективността на грешката на разстоянието между сферите (SD).